Tag Archives: Difraksi Sinar X

E.       Difraksi Sinar X Difraksi sinar X (XRD) adalah teknik analitis yang tidak merusak untuk identifikasi dan penentuan kuantitatif berbagai bentuk kristal dalam bahan. Pengujian dengan XRD dimaksudkan untuk menganalisis unsur yang terkandung di dalam prototipe sumber radioaktif. Hasilnya berupa difraktogram sinar X yang menyatakan hubungan antara intensitas sinar pantul ...